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基于模拟退火算法优化波长的面粉品质检测
窦 颖,孙晓荣,刘翠玲,肖 爽
北京工商大学计算机与信息工程学院,食品安全大数据技术北京市重点实验室,北京 100048
Near-Infrared Spectroscopic Detection of Wheat Flour Quality Using Wavelength Optimization Based on Simulated Annealing Algorithm (SAA)
DOU Ying, SUN Xiaorong*, LIU Cuiling, XIAO Shuang
Beijing Key Laboratory of Big Data Technology for Food Safety, School of Computer and Information Engineering,
Beijing Technology and Business University, Beijing 100048, China
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